菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240在精密測量領域，菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XULM 和 XULMXYm X 射線光譜儀憑借性能，成為細小零部件鍍層厚度無損測量與成分分析的理想之選。

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240該系列產(chǎn)品配備可電動調(diào)整的多樣化準直器及基礎濾片，確保每次測量都能在條件下開展。先進的比例接收器支持高計數(shù)率，為高精度測量筑牢根基。借助 Fischer 基本參數(shù)法，無論是復雜的鍍層系統(tǒng)，還是固體、液體樣品，無需標準片輔助，即可實現(xiàn)精準分析與測量，其可測元素范圍覆蓋氯（17）至鈾（92）。此外，XULM 型 X 射線光譜儀具備出色的長期穩(wěn)定性，大幅降低儀器校準頻率，有效節(jié)省時間與成本。

菲希爾 X-RAY XULM 系列測厚儀在多個領域發(fā)揮關鍵作用。在電子制造中，可精準測量微小零部件、接插件和線材的鍍層厚度，為產(chǎn)品質(zhì)量把控提供可靠數(shù)據(jù)；在印制線路板檢測環(huán)節(jié)，支持手動測量，保障線路板品質(zhì)。在珠寶手表行業(yè)，不僅能準確測量鍍層厚度，還可進行成分分析，助力企業(yè)打造高品質(zhì)產(chǎn)品，適用于質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控等多個場景。